高溫霍爾效應測試儀是利用范德堡測量技術(shù)在不同溫度和不同磁場時對半導體材料的電阻率、載流子濃度、磁致電阻率、霍爾系數(shù)、電子遷移率等進行測量，用來表征和了解材料的物理性質(zhì)。該高溫霍爾效應測試儀主要可包括霍爾效應測量控制系統(tǒng)、變溫控制器、磁場控制系統(tǒng)三部分。

　　高溫霍爾效應測試儀是性能穩(wěn)定、功能強大、性價比高的霍爾效應儀，在國內(nèi)高校、研究所及半導體業(yè)界擁有廣泛的用戶和度。本儀器輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測電子材料之重要特性參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或體材料均可，其原理主要依據(jù)范德堡法則。除了用來判斷半導體材料之型態(tài)(n或p)以外，它也可應用于LED磊晶層的質(zhì)量判定，也可以用來判斷在HEMT組件中二維電子氣是否形成，此未還可以用于太陽能電池片的制程輔助。

　　高溫霍爾效應測試儀主要特點

　　1）寬的工作溫度范圍（70-730K）；

　　2）高的溫度穩(wěn)定性和重復性（±0.1K）；

　　3）可選電磁場（1.4T和5000高斯）和永磁體5000高斯；

　　4）靈活配置的模塊設計，可以根據(jù)經(jīng)費和實驗需求組建系統(tǒng)；

　　5）低運行成本；

　　6）無機械、聲學和電子噪聲；

　　7）高溫霍爾效應測試儀可與塞貝克效應測試儀（熱電效應測試儀或熱電系數(shù)測試儀）公用平臺。